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光束/光斑質量分析儀
BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm





BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組成要素 | 半導體激光器產品及設備 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 化工,建材/家具,電子/電池 |
BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm
?" CMOS 光束分析照相機,超高速USB 3.0,支持190-1605nm,通用型和高像素型可選,采用標準的無邊緣式無窗探測器結構,采用電子快門,最短曝光時間可達40 µs。BladeCam2-HR系列配備功能齊全且可定制的軟件,軟件可免費更新,許可證無需付費,并提供無限制的軟件安裝。
355 nm 至 1150 nm,標準 CMOS 檢測器
1.3M 像素,1280 x 1024 像元,6.6 x 5.3 mm 有效區域
像元尺寸 5.2 µm x 5.2 µm
HyperCal™ – 動態噪聲和基線校正軟件
USB 3.0供電;靈活的螺釘可鎖定3m長的導線
10 位ADC
標準的無邊緣式無窗探測器結構
電子自動快門,40 µs 至 500 ms
信噪比1,000:1 SNR (30/60 dB 光學/電子)
可現場更換的圖像傳感器
M2 測量選項——光束傳輸分析、發散、聚焦
連續激光的光束分析
激光和激光系統的現場測試
光學組裝和儀器校準
光束漂移和記錄
使用 M2DU 平臺測量 M2
BladeCam2-XHR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150 nm









